Semiconductor X-Ray Detectors

R. A. Sareen, B. G. Lowe

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CRC Press img Link Publisher

Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Physik, Astronomie

Beschreibung

Identifying and measuring the elemental x-rays released when materials are examined with particles (electrons, protons, alpha particles, etc.) or photons (x-rays and gamma rays) is still considered to be the primary analytical technique for routine and non-destructive materials analysis. The Lithium Drifted Silicon (Si(Li)) X-Ray Detector, with its

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