Optical Characterization of Real Surfaces and Films
Advances in Research and Development
K. Vedam (Hrsg.)
PDF
ca. 54,90 €
Amazon
iTunes
Thalia.de
Weltbild.de
Hugendubel
Bücher.de
ebook.de
kobo
Osiander
Google Books
Barnes&Noble
bol.com
Legimi
yourbook.shop
Kulturkaufhaus
ebooks-center.de
* Affiliatelinks/Werbelinks
* Affiliatelinks/Werbelinks
Hinweis: Affiliatelinks/Werbelinks
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Physik, Astronomie
Beschreibung
This new volume of the highly respected Physics of Thin Films Serial discusses inhomogeneity in real films and surfaces. The volume, guest-edited by K. Vedam, follows the growth of thin films both from the surface of the substrate, and from the atomic level, layer by layer. The text features coverage of Real-Time Spectroscopic Ellipsometry (RTSE) and Reflectance Anisotropy (RA), two major breakthrough optical techniques used to characterize real time and insitu films and surfaces. In six insightful chapters, the contributors assess the impact of these techniques, their strengths and limitations, and their potential for further development.
Weitere Titel in dieser Kategorie