Size Effects in Thin Films
C.R. Tellier, A.J. Tosser
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Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Maschinenbau, Fertigungstechnik
Beschreibung
A complete and comprehensive study of transport phenomena in thin continuous metal films, this book reviews work carried out on external-surface and grain-boundary electron scattering and proposes new theoretical equations for transport properties of these films. It presents a complete theoretical view of the field, and considers imperfection and impurity effects.
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