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Ageing of Integrated Circuits
Causes, Effects and Mitigation Techniques
Basel Halak (Hrsg.)
PDF
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Springer International Publishing 
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik
Beschreibung
This book provides comprehensive coverage of the latest research into integrated circuits’ ageing, explaining the causes of this phenomenon, describing its effects on electronic systems, and providing mitigation techniques to build ageing-resilient circuits.
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Schlagwörter
Aging-effects Mitigation in processor architectures, Reliability Wearout Mechanisms, Aging Effects on Integrated Circuits, Bias Temperature Instability, Analog IC Reliability