Noise in Nanoscale Semiconductor Devices
Tibor Grasser (Hrsg.)
PDF
ca. 96,29 €
Amazon
iTunes
Thalia.de
Weltbild.de
Hugendubel
Bücher.de
ebook.de
kobo
Osiander
Google Books
Barnes&Noble
bol.com
Legimi
yourbook.shop
Kulturkaufhaus
ebooks-center.de
* Affiliatelinks/Werbelinks
* Affiliatelinks/Werbelinks
Hinweis: Affiliatelinks/Werbelinks
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Springer International Publishing
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik
Beschreibung
This book summarizes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices. Readers will benefit from this leading-edge research, aimed at increasing reliability based on physical microscopic models. Authors discuss the most recent developments in the understanding of point defects, e.g. via ab initio calculations or intricate measurements, which have paved the way to more physics-based noise models which are applicable to a wider range of materials and features, e.g. III-V materials, 2D materials, and multi-state defects.
- Describes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices;
- Enables readers to design more reliable semiconductor devices;
- Offers the most up-to-date information on point defects, based on physical microscopic models.
Weitere Titel in dieser Kategorie
Kundenbewertungen
Schlagwörter
Noise in Semiconductor Devices, Low-Frequency Noise in Advanced MOS Devices, Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices, Noise Analysis, Noise Simulation