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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
Umberto Celano
PDF
ca. 96,29 €
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Springer International Publishing 
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Physikalische Chemie
Beschreibung
This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.
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Schlagwörter
3D Metrology, Ionic Devices, Scalpel SPM, Conductive Bridging Memory CBRAM, Conductive Filaments, Resistive Switching, C-AFM, AFM Tomography, RRAM