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Charge-Trapping Non-Volatile Memories
Volume 2--Emerging Materials and Structures
Panagiotis Dimitrakis (Hrsg.)
PDF
ca. 96,29 €
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Springer International Publishing 
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Maschinenbau, Fertigungstechnik
Beschreibung
This book describes the technology of charge-trapping non-volatile memories and their uses. The authors explain the device physics of each device architecture and provide a concrete description of the materials involved and the fundamental properties of the technology. Modern material properties, used as charge-trapping layers, for new applications are introduced.
- Provides a comprehensive overview of the technology for charge-trapping non-volatile memories;
- Details new architectures and current modeling concepts for non-volatile memory devices;
- Focuses on conduction through multi-layer gate dielectrics stacks.
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Schlagwörter
SONOS, Flash Memories, Charge-trapping Layer, Nitride Memories, Non-volatile Memories, MAHOS, MONOS, 3D Non-volatile Memories, TANOS, Semiconductor Memories, MANOS, Charge-trapping Memories