Leseprobe
Amazon
iTunes
Thalia.de
Weltbild.de
Hugendubel
Bücher.de
ebook.de
kobo
Osiander
Google Books
Barnes&Noble
bol.com
Legimi
yourbook.shop
Kulturkaufhaus
ebooks-center.de
* Affiliatelinks/Werbelinks
* Affiliatelinks/Werbelinks
Hinweis: Affiliatelinks/Werbelinks
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Origin, Characterization, Control, and Device Impact
Eddy Simoen, Cor Claeys
PDF
ca. 171,19 €
Amazon
iTunes
Thalia.de
Weltbild.de
Hugendubel
Bücher.de
ebook.de
kobo
Osiander
Google Books
Barnes&Noble
bol.com
Legimi
yourbook.shop
Kulturkaufhaus
ebooks-center.de
* Affiliatelinks/Werbelinks
* Affiliatelinks/Werbelinks
Hinweis: Affiliatelinks/Werbelinks
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Springer International Publishing 
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Maschinenbau, Fertigungstechnik
Beschreibung
This book provides a unique review of various aspects of metallic contamination in Si and Ge-based semiconductors. It discusses all of the important metals including their origin during crystal and/or device manufacturing, their fundamental properties, their characterization techniques and their impact on electrical devices’ performance. Several control and possible gettering approaches are addressed.
The book offers a valuable reference guide for all researchers and engineers studying advanced and state-of-the-art micro- and nano-electronic semiconductor devices and circuits. Adopting an interdisciplinary approach, it combines perspectives from e.g. material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.
Weitere Titel von diesem Autor
Weitere Titel in dieser Kategorie
Kundenbewertungen
Schlagwörter
Semiconductor Device Fabrication, Defect Engineering, Defects and Device Performance, Device Yield Improvement, Metal Precipitation and Segregation, Metal Gettering