Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari
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Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik
Beschreibung
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.
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Schlagwörter
Genetic Algorithm, Very Large Scale Integration, Deterministic Algorithms, Crosstalk delay faults, Fuzzy Delay Model