Amazon
iTunes
Thalia.de
Weltbild.de
Hugendubel
Bücher.de
ebook.de
kobo
Osiander
Google Books
Barnes&Noble
bol.com
Legimi
yourbook.shop
Kulturkaufhaus
ebooks-center.de
* Affiliatelinks/Werbelinks
* Affiliatelinks/Werbelinks
Hinweis: Affiliatelinks/Werbelinks
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Spacer Engineered FinFET Architectures
High-Performance Digital Circuit Applications
Pankaj Kumar (Indian Institute of Technology-Roorkee, India) Pal, Brajesh Kumar (Indian Institute of Technology Roorkee, Uttareakhand, India) Kaushik, Sudeb Dasgupta, et al.
EPUB
ca. 55,82 €
Amazon
iTunes
Thalia.de
Weltbild.de
Hugendubel
Bücher.de
ebook.de
kobo
Osiander
Google Books
Barnes&Noble
bol.com
Legimi
yourbook.shop
Kulturkaufhaus
ebooks-center.de
* Affiliatelinks/Werbelinks
* Affiliatelinks/Werbelinks
Hinweis: Affiliatelinks/Werbelinks
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Links auf reinlesen.de sind sogenannte Affiliate-Links. Wenn du auf so einen Affiliate-Link klickst und über diesen Link einkaufst, bekommt reinlesen.de von dem betreffenden Online-Shop oder Anbieter eine Provision. Für dich verändert sich der Preis nicht.
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Technik
Beschreibung
This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device–circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.
Weitere Titel von diesem Autor
Weitere Titel in dieser Kategorie