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Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Mohammad Tehranipoor, Krishnendu Chakrabarty, Ke Peng, et al.

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Springer New York img Link Publisher

Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik

Beschreibung

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

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Schlagwörter

Small-delay defects, VLSI Testing and Diagnosis, Design for Test, Nanometer Circuit Testing, Delay Testing, Chip Testing, Integrated Circuits and Systems