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Terrestrial Neutron-induced Soft Error In Advanced Memory Devices
Takashi Nakamura, Eishi Ibe, Mamoru Baba
PDF
ca. 249,99 €
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World Scientific Publishing Company 
Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik / Physik, Astronomie
Beschreibung
Terrestrial neutron-induced soft errors in semiconductor memory devices are currently a major concern in reliability issues. Understanding the mechanism and quantifying soft-error rates are primarily crucial for the design and quality assurance of semiconductor memory devices.This book covers the relevant up-to-date topics in terrestrial neutron-induced soft errors, and aims to provide succinct knowledge on neutron-induced soft errors to the readers by presenting several valuable and unique features.
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